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SIR, 表面絕緣阻抗 / 離子遷移測試  
 
 

 





 

該設備可同步進行連續性監測絕緣電阻,甚至當時正進行極化電壓測試 (Bias Voltage) 及量測讀值顯示。可提供

程式化的測試功能,極化電壓可被選擇 (+/-0到50VDC),及保持時間和測試間隔時間等,可經由使用人員的需求

來設定。一旦所有的測試程序被程式化後,系統將自動化進入測試。該操作流程及使用介面

是相當簡易的。



該系統的測試功能可符合Hewleft Packards EL-EN961-00的電子遷移 (ECM) 測試,及其它的規範如IPC TM650、

BELLCORE TR-NWT-000078、MIL-F-14256D等。


設備原廠ASR Instruments為IPC委員,並參與規範的修訂。該組織從1990發展至今,現有會員有:

        Boeing、Bellcore、Motorola、Lucent、AT&T、Celestica、Kester Solder

        Alphametals、Enthrone Omi、Morton Electronics、Aim、Northrop Grumman

        US Airforce、IME、Litton、Norvartis、Netsteel            …etc

 

 

SIR2.pdf

 

 

 
       
 

 

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