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ACCU-Prober for SET2DIL  
 
 

SET2DIL / SET2SEIL
Intel發明的信號損失測試方法SET2DIL / SET2SEIL,現在已經可以在ACCU-Prober上實現了。ACCU-Prober目前完全支援這兩種測試方法,差分信號損失SET2DIL(Sdd21 Differential Insertion Loss)以及單端信號損失SET2SEIL (Sd21 Single Ended Insertion Loss)。

ACCU-Prober with SET2DIL / SET2SEIL
ACCU-Prober with SET2DIL/SET2SEIL是設計來符合現今電路板產業越來越多高頻測試的需求,SET2DIL與SET2SEIL 的發明者Intel與Introbotix合作開發出此套系統,僅需要使用一支簡單的手持式單端探針就可以量測差分信號損失。同樣地在ACCU-Prober with SET2DIL也建置了與ACCU-Prober Standard相同的測試能力,可以量測阻抗、EBW、Effective Er等等,都可以在同一套系統上面實現。

靜電隔離裝置(Static Isolation Unit )
為了避免容易被靜電傷害的取樣模組損壞,每一個ACCU-Prober都配備有靜電隔離裝置,可以有效的降低取樣模組被靜電擊穿的可能性,讓量產測試更加順暢。搭配Introbotix專業的高頻量測控制技術,軟體精確的控制TDR量測取樣的過程,確保最低的靜電擊穿風險。

一切都是為了量產測試
ACCU-Prober的一切設計都是為了量產測試的需求,一切包含靜電隔離器可以完美的放置於TDR下方,可以減少連接上所需要的測試線長度,搭配方便使用的腳踏開關,可以讓操作員不必佔用一支手的空間就可以進行測試,精心設計的探針把手讓使用者更可以舒適的握著,減少大量量測時手必須要拿著探針的力量,增加舒適度,同時保護探針頭不會因為意外的碰撞而損壞。

ACCU-Prober是一個開方式的平台
ACCU-Prober是一個平台,不是僅僅設計來給某一特定的產品或者測試方式。所以ACCU-Prober支援使用者可以增加不同的測試能力,例如今天僅需要阻抗、EBW的測試能力,那我選擇ACCU-Prober Standard就夠了。若是在未來需要SPP或者SET2DIL的測試能力,僅需要對原本的系統做升級即可,不需要再添購一套新的設備,可以讓公司資源使用更有彈性、更靈活。

軟體終身免費更新
Introbotix提供每一套ACCU-Prober終身免費的軟體更新,若是有任何軟體介面的修改,或者是臭蟲的修正,Introbotix提供每位使用者終身更新的保證,確保軟體使用順暢。

 Accu-Prober DM - ACCU-Prober Datasheet.pdf, 中文型錄.pdf

測試能力與規範(ACCU-Prober的測試能力皆符合以下規範)
IPC TM-650 2.5.5.12 - SET2DIL,  Equivalent Bandwidth Loss(IPC TM650 2.5.5.12.pdf)
IPC TM-650 2.5.5.7 -  Single-ended Impedance, True Differential Impedance Measurements, Propagation Delay, Propagation Velocity, Effective Er (IPC TM650 2.5.5.7.pdf)

 
       
 

 

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