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(PCB信號損失) 雙向SET2DIL測試方法 (Bidirection SET2DIL)

ntel近日發布針對SET2DIL量測方法的改進訊息

新的測試方法稱做為雙向SET2DIL (Bidirectional SET2DIL),其方法為同一條線路從兩個方向量測,然後將其結果平均

Bidirectional SET2DIL是為了解決差分線路可能的不對稱問題

其不對稱可能會造成Loss值波型扭曲、表層底層offset deskew值有巨大差異、R^2很差等問題

詳細內容請參考這裡 -1. Bidirectional_SET2DIL_130530.pdf(English) 2.Bidirectional SET2DIL(中文)

       
 

 

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